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說說制約著納米激光粒度儀測試精度的那些因素

發(fā)布日期: 2021-06-04
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  光是一種電磁波,當光束在其前進過程中遇到粒子時,會引起散射,散射光與光束的初始傳播方向形成角度θ。散射角的大小與粒徑有關,粒子越大,光散射的角度越小。粒子越小,散射光的角度θ越大。通過測量不同角度散射光的強度,可以得到樣品的粒度分布。
  納米激光粒度儀通過少量樣品的檢測結(jié)果表達的粉體粒度分布。因此,采樣的要求是確保被測樣品具有足夠的代表性,否則不僅會得到錯誤的結(jié)果,而且會降低被測樣品的質(zhì)量。頻繁的工作可能會產(chǎn)生誤導并產(chǎn)生嚴重的后果。因此,無論采用何種的激光粒度儀,科學規(guī)范的取樣方法都是獲得正確檢測結(jié)果的前提。納米激光粒度儀是目前粒度測量領域應用較為廣泛的粒度分析儀之一,具有動態(tài)范圍寬、測量速度快、操作方便等特點。它特別適用于測量具有較寬粒度分布的粉末和液滴。激光粒度儀作為一種性能優(yōu)良、應用廣泛的粒度測量儀器,在其他粉體加工和應用領域得到了廣泛的應用。
 

納米激光粒度儀

 

  隨著粉體技術的發(fā)展,對粒度儀性能的要求逐漸提高,尤其是對粒度儀測量范圍的要求越來越寬。測量的下限是幾百甚至幾十納米,測量的上限是1000甚至幾千微米。這對新型激光粒度儀的設計提出了很大的挑戰(zhàn)。
  粒徑越小,散射光在360度空間分布中的強度差越小,當粒徑達到一定限度時,強度差異會很小,幾乎難以區(qū)分,這是納米激光粒度儀的下限??梢钥闯?,當粒子足夠小,強度矢量圖無限接近圓(粒子無限接近中心)時,強度的差異很難區(qū)分。光學設計中的障礙和散射光的特性決定了傳統(tǒng)激光粒度儀的下限一般在0.2微米左右。
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